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NI成功主办第六届“中国PXI技术和应用论坛”

发布时间:2018-08-12 16:00热度()我要投稿
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导读:日前,美国国家仪器有限公司(NationalInstruments,简称NI)宣布在中国北京成功主办第六届“中国PXI技术和应用论坛”

  日前,美国国家仪器有限公司(National Instruments,简称NI)宣布在中国北京成功主办第六届 “中国PXI技术和应用论坛” (PXI Technology & Application Conference,即PXI TAC)。近600位相关领域的工程师和技术人员到场参加会议。除了主办商NI以外,八家国内外知名的PXI供应商如 Aeroflex、MAC Panel、VPC、Pickering,凌华科技以及北京中科泛华,上海聚星仪器,陕西海泰向到会观众展示了最新基于PXI的产品和解决方案。本届活动还特地邀请到了PXI系统联盟技术委员会主席暨NI研发总部首席工程师Mark Wetzel先生和清华大学汽车研究所副所长卢青春教授为此次会议作开幕主题演讲。

  去年PXI TAC盛会提出的以软件为核心的模块化系统架构,顺应了主流的市场发展趋势,已经得到业内广泛的认可;今年,作为测试测量行业的领导者,NI基于该架构进一步展望了2009自动化测试的应用发展趋势,包括多核技术下的并行测试; 基于FPGA的自定义仪器设计; 基于软件无线电的射频测试; 协议感知(Proto

col-Aware)的半导体验证与测试等,同时进一步将PXI平台的应用从测试领域延伸至控制、设计等领域。现场整个会议的技术演讲与产品展示中都体现了这五大趋势的应用。

  全天的活动特辟三个分会场的专题讲座:“自动化测试平台专题”着重于诠释以软件为中心的模块化测试平台,并以此构建自动化的测试应用;“行业应用专题”注重于PXI平台从科研到生产线、从直流到射频等多个行业领域的应用;“PXI开发者专题”则为正在或将要设计PXI模块的工程师提供技术的培训和指导。各个分会场内,与会观众都积极与演讲工程师进行互动,就工程应用问题展开讨论。而在现场应用展示区内,NI联手其他八家PXI供应商和集成商,不仅与与会工程师分享了PXI技术的最新行业应用及发展趋势,同时还提供了良好的与客户交流技术经验和分享成功案例的平台。

  值得一提的是,为了提高用户的活动参与性,本次PXI TAC首次采用了会前用户网上投票选择讲座内容的环节,真正打造了一个为用户所想、让用户做主的技术会议。根据今年会议现场的调查显示,高达99%的与会者认为此次活动对他们的实际工作有很大的帮助,近85%的用户将把PXI作为他们今后的首选测试测量平台。

  诚然,在以软件为中心的模块化仪器架构已经成为测试测量行业的主流趋势之际,FPGA、多核等新兴的商业技术发展势必为测量与自动化行业带来进一步的创新变革,而PXI平台凭借其开放式的架构、灵活性以及基于PC技术的优势,将充分利用这些新技术,从而始终引领自动化测试新趋势;与此同时,我们也欣喜地看到,PXI TAC已经逐渐发挥其品牌效应,成为业内工程师们分享最新测试技术、了解最新市场动态的交流平台!

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